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主營：電磁超聲高溫腐蝕檢測儀（高溫腐蝕儀）,低頻長距離導波
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磁致伸縮導波技術發展特點
磁致伸縮導波技術具有以下發展特點：高靈敏度和高分辨率：磁致伸縮導波技術可以實時監測材料的微小變化，并且具有很高的靈敏度和分辨率，可以檢測出材料內部的細微缺陷和損傷。非接觸式檢測：磁致伸縮導波技術是一種非接觸式檢測技術，可以避免對材料進行二次損傷，適用于復雜環境和難以到達的檢測位置。
工業超聲波c掃描應用范圍
近年來，工業超聲波c掃描顯微鏡（C-SAN）已被成功地應用在電子工業，尤其是封裝技術研究及實驗室之中。由于超音波具有不用拆除組件外部封裝之非破壞性檢測能力，故C-SAN可以有效的檢出IC構裝中因水氣或熱能所造成的破壞如﹕脫層、氣孔及裂縫…等。 超聲波在行經介質時，若遇到不同密度或彈性系數之物質時，隔保溫脈沖渦流檢測設備報價，即會產生反射回波。而此種反射回波強度會因材料密度不同而有所差異.C-SAN即利用此特性來檢出材料內部的缺陷并依所接收之訊號變化將之成像。因此，只要被檢測的IC上表面或內部芯片構裝材料的接口有脫層、氣孔、裂縫…等缺陷時，即可由C-SAN影像得知缺陷之相對位置。
C-SAN服務 超聲波掃描顯微鏡(C-SAN)主要使用于封裝內部結構的分析，因為它能提供IC封裝因水氣或熱能所造成破壞分析，例如裂縫、空洞和脫層。
C-SAN內部造影原理為電能經由聚焦轉換鏡產生超聲波觸擊在待測物品上，將聲波在不同接口上反射或穿透訊號接收后影像處理，再以影像及訊號加以分析。
C-SAN可以在不需破壞封裝的情況下探測到脫層、空洞和裂縫，隔保溫脈沖渦流檢測設備價格，且擁有類似X-Ray的穿透功能，并可以找出問題發生的位置和提供接口數據。
磁致伸縮導波技術有哪些發展歷程？
磁致伸縮導波技術從發現到現在的應用，經歷了漫長的發展歷程。
1842年，科學家James Prescott Joule發現了磁致伸縮效應。這一發現為磁致伸縮導波技術的產生奠定了基礎。
1940年，磁致伸縮技術成功應用于潛艇聲納測距系統，這是磁致伸縮導波技術頭次在聲納領域得到應用。
1960年，美國人Jack Tellerman向美國申請了磁致伸縮位移傳感器。這一發明標志著磁致伸縮導波技術進入了新的階段，隔保溫脈沖渦流檢測設備，并開始在工業領域得到應用。
進入21世紀，磁致伸縮導波技術得到了更廣泛的應用，如用于非接觸位移、液位、轉速等測量。隨著科技的發展，磁致伸縮導波技術的性能和精度也不斷提高，成為了一種重要的無損檢測技術。
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第3年
