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x射線發(fā)生裝置使用范圍：
金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業(yè)廢棄物；有機材料：品、工程塑料、各種樹脂等。利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機乳膠感、氣體電離，低能x射線發(fā)生裝置，測定物質(zhì)的晶體結構，織構及應力，的進行物相分析，定性分析，定量分析。
什么是x射線發(fā)生裝置
X射線衍射儀(X-ray diffractometer，低能x射線發(fā)生裝置價格，XRD)是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部結構的一種大型分析儀器。令一束X射線和樣品交互，用生成的衍射圖譜來分析物質(zhì)結構。它是在X射線晶體學領域中在原子尺度范圍內(nèi)研究材料結構的主要儀器，也可用于研究非晶體。由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。
x射線發(fā)生裝置角度校準的光學新方法
目前x射線發(fā)生裝置的角度檢定和校準測試主要依據(jù)JJG 629—1989《多晶X射線衍射儀檢定規(guī)程》和JB/T 9400—2010《X射線衍射儀技術條件》等技術文件，具體方法是采用光學經(jīng)緯儀或多面棱體等進行測試，該測量方法實際應用中存在一定難度，其次測量間隔較大，低能x射線發(fā)生裝置哪家好，不能很好反映真實的角度誤差規(guī)律.為此，提出了利用θ角和2θ角同軸并可獨立運動的特點，組合采用光電自準直儀和小角度激光干涉儀等儀器，設計了一種新的XRD的角度校準方法，它能夠自動快速地連續(xù)測量角度，取k=2時，擴展不確定度約1.2″.使用該方法測試能夠得到θ和2θ軸的誤差數(shù)據(jù)，可用于修正XRD測角誤差，提高XRD測試精度.該方法也適用于同步輻射等大型衍射系統(tǒng)等其他需要角度校準的情況.
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第6年
