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蘇州英飛思科學儀器有限公司
主營：光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
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測厚儀
材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù)，其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命，因此，鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000B鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優(yōu)點是準確，快速，無損，操作簡單，測量速度快。可同時分析多達五層材料厚度，并能對鍍層的材料成分進行快速鑒定。
膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀
Simply The Best
>微光斑X 射線聚焦光學器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點位測量功能有助于提高測量精度。
溫馨提示：以上是關于蘇州英飛思科學-菏澤EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀的詳細介紹，產(chǎn)品由蘇州英飛思科學儀器有限公司為您提供，如果您對蘇州英飛思科學儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應商或者讓供應商主動聯(lián)系您 ，您也可以查看更多與分析儀器相關的產(chǎn)品！
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第5年
