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蘇州英飛思科學儀器有限公司
主營：光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
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| 先生： |
膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀
Simply The Best
>微光斑X 射線聚焦光學器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點位測量功能有助于提高測量精度。
XRF鍍層測厚儀工作原理
鍍層測厚儀EDX8000B是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，微區(qū)膜厚儀EDX-8000T Plus，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。
溫馨提示：以上是關于微區(qū)膜厚儀EDX-8000T Plus-英飛思科學儀器公司的詳細介紹，產(chǎn)品由蘇州英飛思科學儀器有限公司為您提供，如果您對蘇州英飛思科學儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應商或者讓供應商主動聯(lián)系您 ，您也可以查看更多與分析儀器相關的產(chǎn)品！
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第5年
